เนื่องจากอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์ใช้สารเคลือบที่บางกว่าเดิมผู้ผลิตจึงเพิ่มความต้องการเทคโนโลยีการวัดเพื่อจัดหาพารามิเตอร์ที่เชื่อถือได้สำหรับการตรวจสอบและควบคุมผลิตภัณฑ์ ระบบการเคลือบ Au / Pd / Ni มักใช้ในการชุบตะกั่วเฟรมด้วยไฟฟ้าโดยมี CuFe2 (CDA 195) เป็นวัสดุตั้งต้น ความหนาของการเคลือบโดยทั่วไปอยู่ระหว่าง 3-10 นาโนเมตร Au และ 10-100 นาโนเมตร Pd สำหรับการตรวจสอบคุณภาพของระบบเคลือบเหล่านี้เครื่องมือเรืองแสงเอ็กซ์เรย์ได้กำหนดตัวเองเป็นวิธีการวัดที่เลือกไว้
Comparative Testing to Determine the Capabilities of X-Ray Fluorescence
ชุดของการทดสอบเปรียบเทียบที่ใช้วิธีการวัดทางกายภาพอื่นๆ ถูกนำมาใช้เพื่อตรวจสอบความสามารถของเครื่องมือเรืองแสงเอ็กซ์เรย์ภายในช่วงที่กล่าวถึง ตัวอย่างตัวอย่างถูกวัดด้วยวิธีการเรืองแสงของรังสีเอกซ์โดยใช้แบบจำลอง FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD, Rutherford backscatter และการเอกซเรย์ซิงโครตรอนแบบสมบูรณ์
Measuring Au Coating Thicknesses
สำหรับความหนาของการเคลือบ Au ประมาณ 4, 6 และ 9 นาโนเมตรผลที่ได้จากเครื่องมือเรืองแสงเอ็กซ์เรย์ล้วนอยู่ระหว่างวิธีการอื่นๆ โดยมีความเบี่ยงเบนในช่วงย่อยนาโนเมตรซึ่งยืนยันว่าไม่เพียง แต่การกระจายที่ต่ำเท่านั้น แต่ยังรวมถึงความจริงของ การวัดโดยใช้เครื่องเอ็กซ์เรย์ สามารถตรวจสอบย้อนกลับของผลการวัดได้โดยใช้มาตรฐานการสอบเทียบ FISCHER ที่พัฒนาขึ้นโดยเฉพาะสำหรับแอปพลิเคชั่นการวัดนี้ การจัดการเครื่องเอ็กซ์เรย์อย่างง่ายยังช่วยให้สามารถสแกนชิ้นงานได้ง่ายเพื่อตรวจสอบความสม่ำเสมอของความหนาของผิวเคลือบหากจำเป็น (ดูภาพประกอบ 2)
High-End Coating Thickness Measurement with Fischer Measurement Technology
การผสมผสานระหว่างเทคโนโลยีตรวจจับที่ล้ำสมัยและซอฟต์แวร์วิเคราะห์อันทรงพลัง WinF ™®ช่วยให้สามารถวัดความหนาของผิวเคลือบได้อย่างแม่นยำและเชื่อถือได้แม้ในช่วงต่ำกว่า 10 นาโนเมตร สำหรับการใช้งานบนลีดเฟรมแนะนำให้ใช้เครื่องมือFISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD สำหรับชิ้นงานที่มีขนาดค่อนข้างปกติ สำหรับโครงสร้างที่มีขนาดเล็กมากรุ่นXDV®-µ พร้อมด้วยเลนส์เอ็กซ์เรย์พิเศษช่วยให้มั่นใจได้ว่ามีจุดตรวจวัดขนาดเล็กมากเพียง 20 µm บนชิ้นงาน