Jump to the content of the page

คุณสมบัติ

  • สเปกโตรมิเตอร์ X-ray Fluorescence แบบกระจายพลังงาน (XRF) สำหรับการวิเคราะห์วัสดุอัตโนมัติและการวัดความหนาของผิวเคลือบโดยไม่ทำลายผิว ตามมาตรฐาน ISO 3497 และ ASTM B 568
  • จุดวัดที่เล็กที่สุด XDLM: ประมาณ . 0.1 มม. จุดวัดที่เล็กที่สุด XDL: ประมาณ. 0.2 มม.
  • หลอดเอ็กซ์เรย์ทังสเตน หรือหลอดไมโครโฟกัสทังสเตน (XDLM) เป็นแหล่งกำเนิดรังสีเอกซ์
  • เครื่องตรวจจับท่อแบบเคาน์เตอร์สัดส่วนที่พิสูจน์แล้วเพื่อการวัดที่รวดเร็ว
  • คงที่ หรือเครื่องตรวจจับโคลิเมเตอร์ที่เปลี่ยนแปลงได้
  • ฟิลเตอร์หลักแบบคงที่ หรือเปลี่ยนได้โดยอัตโนมัติ
  • มีให้เลือกทั้งแบบแมนนวล หรือสเตจ XY ที่ตั้งโปรแกรมได้  
  • ตัวเรือนแบบ Slotted สำหรับวัดบนแผงวงจรพิมพ์ขนาดใหญ่
  • กล้องวิดีโอเพื่อความสะดวกในการแก้ไขตำแหน่งการวัด
  • อุปกรณ์ป้องกันเต็มรูปแบบที่ผ่านการรับรอง  

การประยุกต์ใช้งาน

  • การเคลือบด้วยไฟฟ้าและสังกะสี เช่น สังกะสีบนเหล็ก เพื่อป้องกันการกัดกร่อน
  • การทดสอบชิ้นส่วนที่ผลิตโดยมวลอย่างต่อเนื่อง
  • การวิเคราะห์องค์ประกอบของเหล็กพิเศษ เช่น การตรวจหาโมลิบดีนัมใน A4
  • การเคลือบโครเมี่ยมตกแต่ง เช่น Cr / Ni / Cu / ABS
  • การวัดการเคลือบทองที่ใช้งานได้บนแผงวงจรพิมพ์ เช่น Au / Ni / Cu / PCB หรือ Sn / Cu / PCB
  • การเคลือบบนขั้วต่อและหน้าสัมผัส ในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์ เช่น Au / Ni / Cu และ Sn / Ni / Cu

การเข้าสู่โลกแห่งการวัด XRF อัตโนมัติ

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®และXDLM® X-ray fluorescence (XRF) สเปกโตรมิเตอร์มีความสัมพันธ์อย่างใกล้ชิดกับ XUL   ชุด. ส่วนประกอบหลักทั้งหมด เช่น เครื่องตรวจจับท่อเอ็กซ์เรย์และชุดกรองจะเหมือนกัน แต่มีความแตกต่างอย่างมีนัยสำคัญ:เครื่อง XDL   และ XDLM   วัดจากบนลงล่าง และนั่นหมายถึงการวิเคราะห์ XRF ที่สะดวกสำหรับตัวอย่างที่ไม่แบน - รูปทรงที่ซับซ้อนไม่ใช่ปัญหาอีกต่อไป!

วิธีการจากบนลงล่างมีข้อดีอีกอย่างคือ ทำให้การวัด XRF อัตโนมัติทำได้ง่าย XDL   240 และ XDLM   237 มาพร้อมกับขั้นตอนตัวอย่างที่ตั้งโปรแกรมได้จึงเหมาะอย่างยิ่งสำหรับการสแกนพื้นผิว คุณจึงสามารถตรวจสอบความหนาของชั้นในชิ้นส่วนขนาดใหญ่หรือวัดชิ้นส่วนขนาดเล็กจำนวนมากทีละชิ้นโดยอัตโนมัติ
เช่นเดียวกับ XUL Series "M" ใน XDLM ย่อมาจาก "microfocus tube" ซึ่งหมายความว่าเครื่อง XRF เหล่านี้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวิเคราะห์ตัวอย่างขนาดเล็ก ด้วยจุดวัดที่มีเส้นผ่านศูนย์กลางเพียง 0.1 มม. XDLM   จึงเหมาะอย่างยิ่งสำหรับอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์
 

ดาวน์โหลด

ชื่อ ประเภท ขนาด ดาวน์โหลด
Jump to the top of the page