ในการผลิตแผงโซลาร์เซลล์แบบฟิล์มบางหรือฟอยล์ (เช่น CIS / CIGS, CdTe) จำเป็นอย่างยิ่งที่จะต้องรักษาขีดจำกัดความหนาและองค์ประกอบที่ระบุไว้อย่างแน่นอนเนื่องจากจะส่งผลโดยตรงต่อประสิทธิภาพของแผง ด้วยระบบการวัดแบบอินไลน์ที่แม่นยำรวดเร็วและเชื่อถือได้เท่านั้นที่สามารถตรวจสอบพารามิเตอร์การผลิตได้อย่างต่อเนื่องดังนั้นจึงมั่นใจในคุณภาพของกระบวนการเคลือบ
XRF วิเคราะห์ ระบบเลเยอร์ที่ซับซ้อนของโมดูลไฟฟ้าโซลาร์เซลล์
ระบบเซลล์แสงอาทิตย์แบบฟิล์มบาง (PV) ทั่วไปประกอบด้วยชั้นซ้อนที่ค่อนข้างซับซ้อนซึ่งเคลือบลงบนพื้นผิวเช่นแก้วหรือฟอยล์ เนื่องจากผู้ผลิตมุ่งมั่นที่จะพัฒนาผลิตภัณฑ์ CdTe / CIS / CIGS ที่มีต้นทุนต่ำและเชื่อถือได้ปัญหาที่สำคัญที่สุดบางประการ ได้แก่ :
- ประสิทธิภาพของโมดูลที่สูงขึ้นเรื่อย ๆ
- ชั้นโช้คที่บางกว่าเดิมที่น้อยกว่า 1µm
- ความสม่ำเสมอของฟิล์มดูดซับความสม่ำเสมอและความสม่ำเสมอในพื้นที่ขนาดใหญ่
นี่คือที่เทคโนโลยีการตรวจวัดแบบไม่ทำลายผิวที่เจริญเติบโตเต็มที่เช่น X-ray fluorescence (XRF) ช่วยปรับปรุงความสม่ำเสมอและการวัดปริมาณสารเคมี - ดังนั้นประสิทธิภาพของเซลล์และผลผลิต FISCHERSCOPE® X-RAY 5400 ช่วยให้สามารถวัดความหนาและองค์ประกอบของชั้นได้อย่างแม่นยำและแม่นยำในระบบ CIS / CIGS / CdTe ที่ซับซ้อนเพื่อการควบคุมคุณภาพแบบอินไลน์อย่างต่อเนื่องในขั้นตอนต่างๆระหว่างการผลิต
XRF เทคโนโลยีการวัด จาก Fischer สำหรับการแก้ปัญหาการวัดที่ยาก
เนื่องจากหัว X-ray ถูกติดตั้งผ่านอินเทอร์เฟซมาตรฐานที่ระบายความร้อนไปยังระบบห้องสุญญากาศจึงสามารถใช้ในเครื่องจักรการผลิตภายใต้สภาวะที่อุณหภูมิของวัสดุพิมพ์เข้าใกล้ 500 ° C
การเคลื่อนตัวและการโป่งของผลิตภัณฑ์อาจเกิดขึ้นได้ในระหว่างกระบวนการผลิตซึ่งทำให้ระยะห่างระหว่างตัวอย่างและหัววัดผันผวน เพื่อป้องกันเอฟเฟกต์ที่ผิดพลาดซอฟต์แวร์ WinF ™®ของ FISCHER ใช้ข้อมูลที่มีอยู่แล้วในสเปกตรัม XRF ที่วัดได้ซึ่งจะได้รับการชดเชยระยะทางที่เชื่อถือได้โดยไม่มีชิ้นส่วนที่เคลื่อนไหวใด ๆ และทำให้ไม่จำเป็นต้องใช้เซ็นเซอร์วัดระยะทุติยภูมิ
Your Measuring Instrument for Inline XRF Measurement of Thin-Film Solar Cells
เมื่อเปิดใช้งานคุณสมบัติการชดเชยระยะทางสามารถปรับเปลี่ยนระยะการวัดได้ถึง +/- 5 มม. โดยไม่มีผลต่อการอ่านค่าการวัด
คุณภาพการผลิตของเซลล์แสงอาทิตย์ชนิดฟิล์มบางสามารถตรวจสอบได้อย่างถูกต้องและแม่นยำโดยใช้เทคโนโลยี XRF หัววัด X-ray แบบอินไลน์ที่ออกแบบมาเป็นพิเศษของ FISCHER FISCHERSCOPE® X-RAY 5400 ยังตอบสนองความต้องการด้านความทนทานทั้งหมดของสภาพแวดล้อมการผลิตจริง สำหรับข้อมูลเพิ่มเติมโปรดติดต่อตัวแทน FISCHER ในพื้นที่ของคุณ
