Jump to the content of the page

เทคโนโลยีการวัด จาก ฟิสเชอร์ สำหรับการวัดผิวเคลือบ ดีบุก บนโลหะทองแดง

Measurement of the layer thickness in the plant

บทความที่น่าสนใจในนิตยสาร Galvanotechnik . ฉบับเดือนมิถุนายน

อ่านบทความ (Galvanotechnik 06/2021, pp. 751 - 754, Eugen G. Leuze Verlag) เกี่ยวกับคุณสมบัติของสารเคลือบ Sn บนโลหะผสม Cu – และวิธีการวัดสารเคลือบอย่างเหมาะสมที่สุด สามารถใช้การวัด XRF ร่วมกับวิธีคูลอมเมตริกเพื่อกำหนดความหนาของชั้นเคลือบและเฟสระหว่างโลหะ (IMP) ทั้งนี้ขึ้นอยู่กับระบบการเคลือบและพื้นผิว ด้วยความเชี่ยวชาญที่ครอบคลุมและกลุ่มผลิตภัณฑ์เครื่องมือวัดที่หลากหลาย Fischer นำเสนอเทคโนโลยีการวัดที่ได้รับการปรับแต่งเพื่อจุดประสงค์นี้: FISCHERSCOPE® X-RAY 4000 สำหรับการวัดแบบอินไลน์แบบเรียลไทม์และ COULOSCOPE® CMS2

ดาวน์โหลดบทความ

Jump to the top of the page