Jump to the content of the page

Özellikler

  • Çok ince kaplamaların (< 0,05 μm) otomatik ölçümleri ve ISO 3497 ve ASTM B 568'e göre mil başına alt aralıkta ince malzeme analizi için birinci sınıf üniversal XRF analizörü
  • Tungsten anotlu mikrofokus tüpü
  • Optimize edilmiş ölçüm koşulları için 4x değiştirilebilir diyafram açıklığı
  • Daha karmaşık görevler için optimum uyarma koşulları için 6x değiştirilebilir filtre
  • Ekstra geniş 50 mm² etkili alana sahip son derece güçlü silikon drift dedektörü (SDD)
  • Daha yüksek sayım hızları, daha kısa ölçüm süreleri veya ölçüm sonuçlarınızın daha iyi tekrarlanabilirliği için dijital puls işlemcisi DPP+
  • Al(13)'ten U(92)'ye kadar elementlerin analizi
  • 14 cm'ye kadar numune yükseklikleri
  • Küçük parçalarda otomatik ölçümler için <5 µm konumlandırma hassasiyetine sahip yüksek hassasiyetli, programlanabilir XY tablası
  • Ölçüm mesafesinin basit ve hızlı bir şekilde ayarlanması için DCM yöntemi
  • Mevcut radyasyondan korunma mevzuatına göre tip onayına sahip tam korumalı cihaz

Tipik Uygulama Alanları

  • Elektronik ve yarı iletken endüstrisinde fonksiyonel kaplamaların ölçümü, örneğin 2 nm'ye kadar altın kaplamaların kaplama kalınlığı ölçümü
  • Elektronik ve yarı iletken endüstrisinde ince ve çok ince kaplamaların analizi, örneğin ≤ 0,1 µm altın/paladyum kaplamalar
  • Karmaşık çok katmanlı sistemlerin belirlenmesi
  • Sert malzeme kaplamalarının ölçümü
  • Fotovoltaik endüstrisinde kaplama kalınlığı ölçümü
  • RoHS, WEEE, CPSIA ve elektronik, ambalaj ve tüketim malları için diğer direktiflere göre kurşun ve kadmiyum gibi zararlı maddelerin analizi
  • Altın ve diğer değerli metallerin yanı sıra bunların alaşımlarının analizi ve orijinallik testi
  • Fonksiyonel NiP kaplamalarda fosfor içeriğinin doğrudan belirlenmesi

Yüksek kalibreli çok yönlü araç

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD, Fischer portföyündeki en güçlü X-ışını floresan cihazlarından biridir. Bu XRF spektrometresi, 50 mm²'lik etkili bir alana sahip yüksek çözünürlüklü ve güçlü bir silikon sürüklenme dedektörü (SDD) ile donatılmıştır. Bu, en ince katmanları bile hassas ve tahribatsız bir şekilde ölçmenizi sağlar - örneğin kurşun çerçeveler üzerinde yaklaşık 2 nm kalınlığında altın kaplamalar.

Şirket içinde geliştirilen yeni dijital puls işlemcisi DPP+ ile birlikte ölçüm performansınızı yeni bir seviyeye çıkarabilirsiniz. Artık daha yüksek sayım hızları bile işlenebilir, bu da ölçüm sürelerinin kısalmasını veya ölçüm sonuçlarınızın tekrarlanabilirliğinin artmasını sağlar. Aynı zamanda, XDV-SDD tahribatsız malzeme analizi için mükemmel şekilde uygundur. Örneğin, plastikteki kurşun izleri için algılama hassasiyeti yaklaşık 2 ppm'dir - RoHS veya CPSIA tarafından istenen değerlerden daha düşüktür.

Her XRF kaplama kalınlığı ölçümü için ideal koşulları oluşturmak üzere XDV-SDD, bilimsel düzeyde çalışmaya olanak tanıyan değiştirilebilir kolimatörlere ve birincil filtrelere sahiptir. Sezgisel kontrol paneli ile son derece sağlam olan cihazın bir joystick ve düğmelerle kullanımı kolaydır ve özellikle endüstriyel kullanımda seri testler için tasarlanmıştır.

İşaretlemeden önce, yüksek numune hacimleri veya büyük test parçaları için: Altın içeriğini hızlı ve güvenilir bir şekilde ölçün

Yeni FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD ile alaşımları veya değerli metalleri en ince farklar için güvenilir bir şekilde inceleyin. Altın külçelerinin, madeni paraların veya mücevherlerin değeri hakkında güvenilir açıklamalarda bulunabileceğiniz son derece hassas analizler elde edin.

Şimdi İndirin

Jump to the top of the page