FISCHERSCOPE X-RAY 5000

Özellikler

Üretim kontrol sistemlerine bağlı çalışan işlemlerde sürekli ölçüm
Esnek kullanım: vakumda veya havada ölçümler için; 400 ° C'ye kadar numune sıcaklıkları için
İsteğe bağlı olarak su soğutmalı olarak temin edilebilir
Zorlu koşullar altında sürdürülebilir hassas ölçümler için özellikle sağlam tasarım ve yapı
Olağanüstü derecede uygun geniş yüzeyli ürünler üzerinde kaplama kalınlığı ölçümü ve malzeme analizine kadar
X-ışını kaynağı, dedektör ve birincil filtre müşteri tarafından seçilebilir
Sistemler DIN ISO 3497 ve ASTM'ye uygundur B 568

Uygulamalar

Güneş enerjisi endüstrisinde CIGS, CIS, CdTe ve CdS katmanlarının kalınlığı
Metal şeritler, metalik folyolar ve plastik folyolar üzerinde sadece birkaç µm kalınlığında ince tabakalar
Fotovoltaiklerde CIGS, CIS, CdTe ve CdS katmanlarının bileşimi
Sürekli üretimde kaplama kalınlığı kontrolü
Püskürtme ve elektrokaplama tesislerinde proses izleme

Fotovoltaikler için otomatik XRF sistemi

FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 sistemi, örneğin fotovoltaik gibi geniş alanlı yüzeylerde ince kaplamaların kalınlığını sürekli olarak ölçer. Bu serideki cihazlar üretim hatlarına kolayca monte edilebilen modüler birimler oluşturur. -RAY 5000 normal atmosferde veya vakum altında çalıştırılabilir.Ayrıca cihazın bakımı kolay olacak şekilde tasarlanmıştır: Ölçüm kafasına vakumu bırakmadan bakım yapılabilir.

Ürün imalat sırasında hareket ederse veya şişerse, ölçüm sonuçlarını değiştirebilir. Bu nedenle Fischer’in WinFTM yazılımı, mesafe kompanzasyonu için ek bir mesafe sensörü gerektirmeden 1 cm'ye kadar dalgalanmaları kompanze edebilen yerleşik bir işleve de sahiptir.