Çoğu durumda, X-ışını floresan yöntemi (XRF) zaman alıcı numune hazırlama gerektirmez. Probun X-ışını demetine basit bir şekilde yerleştirilmesi çoğunlukla yeterlidir. Ancak test edilen örnek, ölçüm noktası boyutuyla(spot size) aynı boyutlara sahipse, kesin bir yerleştirme zordur; Örneğin aşağıdaki nesnelerde kaplama kalınlığının ölçümü için:
- Baskılı devre kartlarındaki fiş kontakları
- Konektörler
- SMD bileşenleri
Yeni örüntü tanıma özelliğiyle, programlanabilir XY tablolarına sahip tüm FISCHERSCOPE® X-RAY cihazları, zorlu koşullarda bile örnekleri güvenli bir şekilde konumlandırabilir. Yazılım WinFTM® bir görüntü detayını (desenini) saklar ve ölçüm sırasında arar. Ardından XY tablası konumunu yeniden ayarlar, böylece desen bulunur ve ölçüm doğru konumda gerçekleştirilir.
Avantajları:
- Örneklerin konumlandırılması sırasında operatör etkisinin azaltılması
- Örneklerin boyutsal tolerans etkisinin azaltılması
Örüntü tanıma uygulamalarına sahip videolar:
