FISCHERSCOPE X-RAY XDL および XDLM

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®およびXDLM®測定器は、X線照射は上から下となります。これにより、平坦ではない試験片でも測定が容易になります。つまり複雑形状でも測定ができます。

 

X線を上から下へ照射する他の利点として、測定タスクをプログラム化して自動測定が組めます。プログラム可能な測定ステージを搭載しており、XDL 240およびXDLM 237は、表面をスキャン（走査）して測定することにも適しています。大型パーツの膜厚測定ができ、また多数の小型パーツの自動測定もできます。

XDLMは、マイクロフォーカスチューブを搭載しており、特に小さなサンプルの測定に適したデバイスです。エレクトロニクス産業などにおける直径0.1mmの測定スポットにも対応できます。