最先端のテラヘルツ技術による自動測定システム
有機および誘電単層および多層コーティングの厚さ測定およびテラヘルツ波による材料分析のための自動測定ソリューション
地域および国によって可用性が異なります
アドバンテージ
- 市場をリードする測定性能:最高精度と再現性のための最大6 THzの帯域幅*
- 特許取得のClean-Traceテクノロジー:純度の高い測定結果のための連続的な乾燥空気の浄化
- 3Dスキャナー:円形の表面や複雑な幾何学形状でも高精度な位置決め
- どんな振動よりも速い。1.6 kHz*のユニークな高サンプリングレートにより、過酷な環境でも正確な測定結果が得られます
- 簡単な統合:ロボットや制御システム向けに設計されたハードウェアとソフトウェア
- 高信頼性:頑丈で、低メンテナンス、24/7の運転に適した開発
- 低メンテナンス。電気光学測定による摩耗の低減
*構成による
Applications
より正確で、より迅速。最大の稼働時間を確保するために設計された頑丈なTERASCOPE®は、市場をリードする測定性能を実現するために最大6 THzの帯域幅を備えています。特にマルチレイヤーシステムの測定用に設計された自動測定システムは、各個の層を検出し、その特性を非接触、非破壊、かつ正確に特定できます。そして、たった1つの作業ステップで完全自動で行います。
非常に高いサンプリングレートのおかげで、TERASCOPE®は外部の振動に独立して測定し、ベース素材や産業に関係なく、超短時間で測定結果を提供します。TERASCOPE®を品質保証プロセスに簡単に統合し、世界でも類を見ない精度、正確性、および速度で作業します。
1.自動車
単層および多層膜の膜厚測定
- 金属、プラスチック、カーボンなど、あらゆる基板材上の塗膜、スポイラーやバンパーなどの外装部品のプラスチック/カーボンを基材上の多層膜システムの測定、エアバッグなどの内装部品、プラスチック複合部品、スラッシュ層、プラスチック複合部品上の有機材料、バッテリーフォイル、燃料電池のバイポーラプレートなどの付属部品、その他
レーダー透過と反射を含む膜厚測定
- バンパーなどのプラスチック外装部品
2.航空宇宙
単層および多層膜の膜厚測定
- 様々な航空機部品のあらゆる基材上のコーティング
目に見えない欠陥や隠れた腐食の検出
- 各種複合材、主要部材、主翼、胴体に炭素繊維複合材を使用したもの、タービンブレードの遮熱塗料、その他
3.半導体
材料試験と品質管理
- コンダクタンスプレート、プレートの抵抗、フリーチャージキャリアの移動度(2DEG)、チャージキャリア密度、屈折率、誘電パラメータ、ε'とε''、吸収電力密度、周波数特性。
4.ポリマーおよびプラスチック押出成形
単層または多層膜のアプリケーションに適した膜厚測定
- バッテリーホイル、パッケージング、EVOH層などの機能性樹脂、共押出成形、燃料電池のバイポーラプレート、その他
品質管理の一環として、目に見えない欠陥を発見する
- プラスチック部品、ポリマー、複合材料は、あらゆる産業で機能性と安全性が重要な部品に使用されています。
5.環境
単層および多層膜の膜厚測定
- 燃料電池のバイポーラプレート、バッテリーフォイル、太陽光発電、パッケージング、その他
隠れた欠陥の特定や品質の検証
- 風力タービン、太陽光発電、その他
6.素材
単層および多層膜の膜厚測定
- 耐摩耗DLC(カーボン)、パッケージング、特殊インキ(紙幣印刷用など)、金属シート上の塗装、その他
材料試験や品質管理
- コンダクタンスプレート、プレートの抵抗、フリーチャージキャリアの移動度(2DEG)、チャージキャリア密度、屈折率、誘電パラメータ、ε'とε''、吸収電力密度、周波数特性
- 以下のようなアプリケーション
- 半導体における2次元材料、グラフェン、太陽電池、特殊インク、金属シート上の塗装など
7. セラミックス
単層および多層膜の膜厚測定
- セラミック上のセラミック、例えば衛生分野におけるエナメル、金属上のセラミックス(タービンブレードの遮熱コーティングなど)
目に見えない欠陥の検出や品質管理
- 歯科用品などのセラミック上のセラミック、金属上のセラミック(タービンブレードの遮熱塗料など)
その他のアプリケーションもご要望やニーズに合わせてご相談に応じます。お気軽にお問い合わせください。
テラヘルツ計測の仕組みは?
TERASCOPE®は、最大6 THz*までの広い周波数範囲のテラヘルツ波を使用しています。波長が1mm未満のテラヘルツ波はマイクロ波よりも短いが可視光より長いです。THz波の特徴は、有機物や誘電体層を多く透過できることです。マルチレイヤーシステム内の各個の層は、個別に検出できます。
テラヘルツ波は、測定ヘッドでレーザーを使用した光電子ユニットによって生成されます。これにより、超短テラヘルツパルスが発せられ、サンプルに送信されます。これらのパルスは異なる層に透過します。層間の遷移では、波が部分的に反射されます。これらのエコーパルスは、特徴的な時間差で検出器に到達します。各層や各材料には特定の吸収スペクトルがありますので、信号特性から各層や層厚さを正確に決定し、均質性や孔隙率などの他のパラメータを推定できます。
*構成により異なります