Optique

Le développement et la fabrication d'optiques capillaires de haute précision pour la mise en forme de faisceaux de rayons X est une compétence technologique de base de Helmut Fischer GmbH. Ces composants sont à la base des appareils de fluorescence X à micro-faisceaux modernes de Fischer pour les mesures sur de petites structures.

Mesure des revêtements minces et très minces et analyse des systèmes multicouches complexes:

• Couches sur les plaquettes de silicium et les circuits imprimés.
• Mesure de la teneur en Ag dans les bosses de soudure.
• Composants SMD
• Contacts enfichables
• Cadres de connexion
• Mappages d'éléments et d'épaisseurs de couches à micro-échelle.

Le développement et la fabrication d'optiques capillaires de haute précision pour la mise en forme de faisceaux de rayons X est l'une de nos principales compétences technologiques. Grâce à ces composants, les instruments XRF de Helmut Fischer sont capables de mesurer sur les plus petits composants et microstructures. En tant que l'un des 2 seuls fabricants au monde, nous garantissons l'innovation et la plus haute précision de mesure.

Outre l'utilisation de sources microfocales très brillantes et de détecteurs à dispersion d'énergie efficaces, l'application d'optiques polycapillaires est également déterminante pour la performance de mesure optimale d'un spectromètre XRF. Une lentille polycapillaire concentre le faisceau d'excitation sur un petit point à très haute intensité, ce qui entraîne une réduction significative du temps de mesure. Les développements modernes dans le domaine de la nanotechnologie et de la microélectronique augmentent la demande d'une résolution spatiale toujours meilleure. Pendant longtemps, la résolution spatiale dans la gamme de haute énergie du faisceau de rayons X a été obscurcie par l'effet dit de halo. Cet effet entraînait une détérioration significative de la résolution latérale du spot de mesure sur la surface de l'échantillon et provoquait ainsi des déterminations erronées de la composition dans l'analyse quantitative des matériaux. Grâce à notre longue expérience et à un travail de développement efficace, nous avons pu non seulement réduire l'effet de halo, mais aussi produire des lentilles polycapillaires sans halo.

En plus de l'utilisation de sources microfocales très brillantes et de détecteurs à dispersion d'énergie efficaces, l'application d'optiques polycapillaires est également décisive pour obtenir des performances de mesure optimales d'un spectromètre XRF. Une lentille polycapillaire concentre le faisceau d'excitation sur un petit point à très haute intensité, ce qui entraîne une réduction significative du temps de mesure. Les développements modernes dans le domaine de la nanotechnologie et de la microélectronique augmentent la demande d'une résolution spatiale toujours meilleure. Pendant longtemps, la résolution spatiale dans la gamme de haute énergie du faisceau de rayons X a été obscurcie par l'effet dit de halo. Cet effet entraînait une détérioration significative de la résolution latérale du spot de mesure sur la surface de l'échantillon et provoquait ainsi des déterminations erronées de la composition dans l'analyse quantitative des matériaux. Grâce à nos nombreuses années d'expérience et à un travail de développement efficace, nous avons pu non seulement réduire l'effet de halo, mais aussi produire des lentilles polycapillaires sans halo:

Les monocapillaires de forme elliptique ou parabolique sont des éléments optiques d'imagerie à réflexion totale unique. La taille du point focal d'un capillaire de forme elliptique est déterminée à la fois par la taille, la forme de la source et par la précision de fabrication du capillaire. Les capillaires de forme parabolique concentrent un faisceau parallèle sur un point focal ou parallélisent le faisceau divergent d'une source ponctuelle. Un faisceau synchrotron est focalisé par eux sur un très petit point allant jusqu'à 250 nm.