XRF - 에너지 분산형 X-선 형광 분석

XRF 분석 방법에서 마지막으로 중요한 구성 요소는 최고의 정확도로 형광 방사선을 감지하고 측정하는 디텍터입니다. 디텍터의 정보는 분석 소프트웨어로 전달되어 처리됩니다. 디텍터 유형에 따라 XRF 로 분석 가능한 측정 작업의 범위가 결정됩니다.
저희는 시장에서 가장 포괄적인 디텍터 포트폴리오를 제공합니다. 즉, Fischer에서만 측정 작업에 맞는 디텍터를 찾아 최적으로 해결할 수 있습니다. 특정 이점을 제공하는 3가지 유형의 디텍터가 있습니다.

측정 기술 전문가의 포트폴리오에서 검증된 Proportional Counter(PC) 튜브는 필수 불가결합니다. 곡선을 그리는 넓은 윈도우 부분에서 많은 에너지 감지 영역을 확보하였습니다. 이를 사용하면 많은 양의 형광 방사선이 디텍터에 도달하여 높은 카운트레이트를 얻을 수 있습니다. 또한 샘플에서 20 – 80mm 떨어진 곳에서도 측정이 가능합니다. PC 튜브는 1 – 30 µm 범위의 코팅 두께 측정과 작은 측정 지점에 적합합니다. 또 다른 장점은 PC 튜브가 디텍터에 대한 샘플 정렬의 정확도 및 측정 거리 설정과 관련하여 훨씬 덜 민감하여 서로 다른 측정자 간의 편차도 적다는 장점이 있습니다. PC 튜브는 Fischer에서 표준으로 개발한 드리프트 보정 기능을 갖추고 있어 탁월한 안정성을 제공합니다.

더 까다로운 코팅 두께 측정을 위해서는 더 높은 에너지 분해능이 필요합니다. 이 경우 실리콘 PIN 다이오드가 있는 XRF를 적용하는 것이 좋습니다. 이 반도체 디텍터는 간단한 재료 분석에도 쉽게 사용할 수 있습니다. 따라서 실리콘 PIN 디텍터는 디텍터 포트폴리오의 중간급 사양입니다.

고품질 XRF는 SDD(실리콘 드리프트 디텍터)를 사용합니다. 이 디텍터는 가장 강력한 성능을 갖고 있습니다. 특히 우수한 에너지 분해능과 특히 높은 감지 감도를 자랑합니다. 재료의 원소 구성을 조사할 때 SDD는 모든 디텍터 중 최고의 성능을 제공합니다. 매우 낮은 농도로 존재하는 시료 내 원소의 형광 방사선을 쉽게 감지합니다. 또한 SDD가 장착된 기기는 나노미터 범위의 코팅 두께를 정밀하게 측정하고 복잡한 다층 작업을 안정적으로 평가할 수 있습니다.