위상 감응 와전류 방식

위상 감응 와전류 방식은 코팅 두께 측정을위한 기존의 진폭 감응 와전류 방법을 수정 한 것입니다. ISO 21968에 따르면 위상 감응 와전류 방법은 인쇄 회로 기판 위의 구리, 강철 또는 절연 재료 위의 니켈과 같은 모든 기판의 전기 전도성 코팅을 테스트하는 데 사용할 수 있습니다.

 

위상 감응 와전류 방식은 여러 종류의 외부 영향에 매우 민감하지 않습니다. 예를 들어 샘플의 곡률이나 표면의 거칠기는 측정에 거의 영향을 미치지 않습니다. 이는 자기 유도 또는 진폭 감응 방법에 비해 큰 이점입니다. 이러한 이유로 위상 감지 프로브는 추가 보정없이 전기 도금 공정에서 작은 부품의 아연 두께를 확인하는 데 적합으로 적합합니다.

위상 감응 와전류 방식은 코팅 두께 측정에 큰 이점을 제공합니다. 위에서 설명한 것처럼 실제 측정 신호는 코팅에서 직접 생성됩니다. 이 방법은 기판 재료의 신호 감쇠를 측정하는 자기 유도 및 진폭 감응 방식과 실질적으로 구별됩니다. & nbsp; </ p>

이것이 프로브가 금속층에 직접 닿을 필요가없는 이유입니다. 코팅 아래의 금속 층도 측정 할 수 있습니다. 듀플렉스 측정. & nbsp; </ p>

모든 전자기 측정 방법은 비교 대상입니다. 즉, 측정된 신호를 장비에 저장된 특성 곡선과 비교합니다. 정확한 결과를 위해 특성 곡선을 현재 조건에 맞게 조정해야 합니다. 이 작업은 칼리브레이션을 통해 진행됩니다. 

위상 반응 와전류 방식을 사용하여 코팅 두께 측정에 강한 영향을 미칠 수 있는 요인은 주로 소재의 전기 전도성과 투과성입니다. 샘플의 크기 또한 중요합니다. 또한 모든 측정에 대해 작업자는 항상 프로브가 올바른 위치에 있는지 확인해야 합니다.

코팅의 전도도와 원소재가 유도된 와전류의 밀도를 결정하여 코팅 두께 측정에 직접적인 영향을 미칩니다. 따라서 기판 재료와 코팅의 올바른 조합, 즉 나중에 실제 측정을 수행할 재료와 동일한 재료에 대해 측정기를 칼리브레이션해야 합니다.

금속성 모재의 경우 코팅재뿐만 아니라 기판에서도 와전류가 발생합니다. 기판이 매우 얇은 경우 (예 : 평평한 판금), 측정 빈도와 재료에 따라 달라지는 최소 두께가 필요합니다.

마지막으로 중요한 것은 측정 장비의 작동 방식도 중요한 역할을 합니다. 프로브가 항상 표면에 수직으로 압력 없이 설정되어 있는지 확인합니다. 정확도를 높이기 위해 스탠드를 사용하여 프로브가 고정되어 있는 상태에서 샘플을 측정할 수 있습니다.