FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ 튜토리얼

Helmut Fischer의 마케팅 전문가인 Grace Chua는 일련의 튜토리얼을 통해 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®µ를 사용하는 것이 얼마나 사용자 친화적인지 보여줍니다. XDV® µ는 매우 작은 구성 요소나 구조의 측정이 가능한 Polycapillary X선 광학 장치가 있는 X선 형광 측정 기기입니다. 모든 장치에는 X선 빔에 초점을 맞춘 다면 광학 장치가 장착되어 있어 직경이 10~60μm인 측정 스폿(fwhm)이 가능하며 집중 방사선의 높은 강도로 인해 측정 시간이 짧습니다. 일반 XDV-μ 제품 외에도, 전자 산업과 반도체 산업에 최적화 된 제품을 사용할 수 있습니다. 예를 들어 XDV-μ LD는 인쇄 회로 기판에서의 측정에 최적화되어 있으며 XDV-μ 웨이퍼는 클린룸에서 사용하도록 되어 있습니다.