X-RAY XDL 230 | With DCM: Easy Measurement of Complex Shaped Samples
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230 は、シンプルで迅速な膜厚測定が可能な蛍光X線測定器です。単一または複数の塗膜の測定に最適です。Fischer DCM(距離制御測定)により、複雑な形状の試料でも問題なく測定できます。測定距離は、測定ヘッドの設定ダイヤルを使って変更できます。フィッシャーDCMでは、Z軸を調整することなく、迅速かつ簡単に測定距離を変更できます。調整するのはカメラの焦点だけです。高さ調整可能な測定ヘッドで、くぼみのある部品もぶつかることなく測定できます。
X-RAY XDLM 237|電解質溶液の分析-簡単・迅速に
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237 は、単層および多層膜の膜厚測定や簡単な合金分析用の蛍光X線分析装置です。さらに、XDLM 237 は電解質の溶液分析にも完璧に対応します。業界で一般的に使用されているほとんどの電解質が、このXRFスペクトロメーターで測定可能です。フィッシャーは、浴用分析に必要なすべてを提供します。ハンディタイプの測定セルとプラスチックフォイルは最高品質です。測定はわずかなステップで準備できます。ICP-OES、AAS、滴定などの他の化学電解質分析法と比較して、当社のソリューションはよりシンプルで安価、かつ迅速であるため、時間とコストを節約することができます。