Reconnaissance de formes dans les instruments FISCHERSCOPE® X-RAY
Dans la plupart des cas, la méthode de fluorescence X (XRF) ne nécessite pas de préparation d'échantillon qui prend du temps. Un simple placement de la sonde dans le faisceau de rayons X est généralement suffisant. Mais si l'échantillon à tester a les mêmes dimensions que la taille du point de mesure, un placement exact est difficile, par ex. pour la mesure de l'épaisseur du revêtement sur les objets suivants:
- Branchez les contacts sur les circuits imprimés
- Connecteurs
- Composants SMD
Avec la nouvelle fonction de reconnaissance de formes, tous les instruments FISCHERSCOPE® X-RAY avec tables XY programmables sont capables de positionner les échantillons en toute sécurité, même dans des conditions difficiles. Le logiciel WinFTM® stocke un détail d'image (motif) et le recherche pendant la mesure. Il réajuste ensuite la position de la table XY, afin que le motif soit trouvé et que la mesure soit effectuée à la bonne position.
Avantages:
- Réduction de l'influence de l'opérateur lors du positionnement des échantillons
- Réduction de l'influence de la tolérance dimensionnelle des échantillons
