Le phosphore, dont la concentration influence de manière significative les propriétés mécaniques et magnétiques d'un revêtement, est incorporé lors de l'utilisation de méthodes typiques pour le dépôt autocatalytique ou chimique de nickel. La mesure de la teneur en phosphore a donc été un problème depuis que le Ni électrolytique a été introduit pour la première fois pour des applications techniques.
Jusqu'à présent, l'analyse par fluorescence X - largement utilisée dans l'industrie de la galvanoplastie pour la mesure de l'épaisseur du revêtement et l'analyse du revêtement - ne permettait de déterminer la concentration de phosphore qu'indirectement par l'évaluation du signal du substrat, limitant l'applicabilité de la technique aux systèmes avec des substrats constitués que d'un seul élément lourd. En outre, une épaisseur de revêtement minimale d'environ 4 µm était requise.
Cependant, en utilisant le FISCHERSCOPE® X-RAY avec des détecteurs de dérive au silicium haute résolution (SDD), le signal de fluorescence du phosphore peut être mesuré directement, à condition que les conditions d'excitation soient correctement sélectionnées.
La profondeur de l'information est très superficielle: le rayonnement de fluorescence provenant uniquement du 1 µm supérieur entre dans l'évaluation des spectres; par conséquent, les interférences dues à la diffraction peuvent être largement exclues. L'incertitude de mesure de la teneur en phosphore est d'environ 0,5% en masse.
Etant donné que la mesure de l'épaisseur d'un revêtement NiP est réalisée dans des conditions d'excitation différentes de la détermination de la concentration de P, ces deux applications de mesure se complètent. La traçabilité peut être garantie en utilisant les étalons de calibration respectifs (avec Fe, Cu, Al et PCB comme matériaux de substrat) de FISCHER.
La combinaison d'une technologie de détection de pointe telle que le SDD, les multiples excitations dans divers modes et le puissant logiciel d'analyse, WinFTM®, permet des mesures fiables et précises de l'épaisseur du revêtement et de la teneur en phosphore des revêtements en nickel chimique sur une grande variété de substrat. Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD réunit toutes ces caractéristiques de performance dans un seul instrument.