FISCHERSCOPE X-RAY 5000

Functies

Continue meting in lopende processen met aansluiting op productiecontrolesystemen

Flexibel gebruik: voor metingen in vacuüm of in lucht; voor monstertemperaturen tot 400 ° C

Optioneel verkrijgbaar met waterkoeling

Bijzonder robuust ontwerp en constructie voor duurzaam nauwkeurige metingen onder zware omstandigheden

Uitstekend geschikt voor laagdiktemeting en materiaalanalyse op producten met grote oppervlakken

Röntgenbron, detector en primair filter kunnen allemaal door de klant worden geselecteerd

Systemen voldoen aan DIN ISO 3497 en ASTM B 568

Toepassingen

Dikte van CIGS-, CIS-, CdTe- en CdS-lagen in de zonne-industrie

Dunne lagen van slechts enkele µm dik op metalen strips, metalen folies en plastic folies

Samenstelling van CIGS, CIS, CdTe- en CdS-lagen in fotovoltaïsche installaties

Controle van de laagdikte bij continue productie

Procesbewaking in sputter- en galvaniseerinstallaties

Het geautomatiseerde XRF-systeem voor fotovoltaïsche zonne-energie

Het FISCHERSCOPE® X-RAY 5000-systeem meet continu de laagdikte van dunne lagen op substraten met een groot oppervlak, bijvoorbeeld in fotovoltaïsche cellen. De apparaten in deze serie vormen modulaire units die eenvoudig in productielijnen te installeren zijn. De X-RAY 5000 kan zowel in een normale atmosfeer als onder vacuüm worden gebruikt. Bovendien is het apparaat zo ontworpen dat het gemakkelijk te onderhouden is: de meetkop kan worden onderhouden zonder dat het vacuüm moet worden opgeheven.

Als het product tijdens de fabricage beweegt of uitpuilt, kan dit de meetresultaten scheeftrekken. Om deze reden heeft de WinFTM-software van Fischer ook een ingebouwde functie voor afstandscompensatie, die fluctuaties tot 1 cm kan compenseren zonder dat er extra afstandssensoren nodig zijn.