소량의 유해 물질 검출 – RoHS

Coating Thickness Printed Circuit Boards

많은 제품의 제조업체 및 유통 업체가 유해 물질을 감지할 수 있어야합니다. RoHS(유해물질제한), DIN EN 71(장난감안전표준) 및 CPSIA(소비자제품안전개선법)와 같은 다양한 규정은 특히 중금속에 대해 최대 허용값을 지정합니다.

예를 들어 RoHS는 납(Pb), 수은(Hg), 6가 크롬(Cr VI) 및 브롬 화합물(PBB, PBDE)의 농도를 1000ppm으로 제한하는 반면 카드뮴(Cd)에 대한 제한은 100ppm입니다.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD와 같은 실리콘 드리프트 검출기가있는 X-선 형광 기기는 다양한 제품에서 이러한 유해 물질을 쉽고 비파괴로 측정하는 데 매우 적합합니다.

다양한 규정의 한계값과 비교하여 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD를 사용하여 측정한 다양한 재료/구성 요소에서 Pb의 검출 한계.
플라스틱	알루미늄/ 세라믹	황동	강철	납땜
2 ppm	6 ppm	50 ppm	30 ppm	60 ppm
하우징 케이블 피복, PCBs	하우징, SMD 부품	플러그 접점	하우징	납땜 포인트, 보석 견본

허용 한계:	RoHS:	1000ppm
	DIN EN 71:	90ppm
	CPSIA:	100ppm

표 1은 X-선 형광법을 사용하여 다양한 물질에서 Pb의 검출 한계를 보여줍니다. Pb에 대해서는 직접 측정이 가능하지만 Cr 및 Br에 대해서는 유해 화합물의 정확한 농도가 아닌 총 농도 만 측정할 수 있습니다. 총 농도가 한계 값 미만일 때 적합성이 설정됩니다. 그렇지 않으면 추가 분석 방법을 사용해야 합니다. 필요한 검출 한계는 Cd, Hg, As 및 Ba와 같은 다른 중금속에 대해서도 충족 될 수 있습니다.

FISCHER 제품에 대한 현지 담당자가 매우 적은 농도의 유해 물질을 측정하는 데 적합한 X- 선 형광 기기를 선택하는 데 도움을 드릴 것입니다. SDD 검출기가 있는 FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD, XAN®150 또는 PIN 검출기가 있는 XDAL®.

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