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Measurement System Analysis Made Easy with XRF Measuring Instruments

XRF ์ธก์ •๊ธฐ๋กœ ๊ฐ„ํŽธํ•œ MSA(Measurement System Analysis) ์ง„ํ–‰

์ธก์ • ์‹œ์Šคํ…œ ๋ถ„์„(MSA) ์€ ์‹ค์ œ๋กœ ์ ์  ๋” ์ค‘์š”ํ•ด์ง€๊ณ  ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค. ์ธก์ • ํ”„๋กœ์„ธ์Šค๋ฅผ ํ—ˆ์šฉํ•˜๋Š” ๊ฒƒ ์™ธ์— ์ตœ์ ํ™”ํ•˜๋Š”๋ฐ์—๋„ ์‚ฌ์šฉํ•  ์ˆ˜ ์žˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค. ์ƒˆ๋กœ์šด ๋‰ด์Šค๋ฅผ ์ฝ๊ณ  MSA์˜ ๊ด€๋ จ ์˜ํ–ฅ ์š”์ธ์„ ์‹๋ณ„ํ•˜๊ธฐ ์œ„ํ•ด ๊ตฌ์ฒด์ ์ธ ๊ถŒ์žฅ ์กฐ์น˜๋ฅผ ๋ฐ›์œผ์‹œ๊ธฐ๋ฅผ ์ถ”์ฒœ๋“œ๋ฆฝ๋‹ˆ๋‹ค. ํ‘œ์ค€ํŽธ์ฐจ์™€ ์ฒด๊ณ„์ ์ธ ์ธก์ • ํŽธ์ฐจ๋ฅผ ์ค„์ด๋Š” ๋ฐฉ๋ฒ•, ๊ณ ํ’ˆ์งˆ XRF ์ธก์ •๊ธฐ ๊ฐ€ ์ œ๊ณตํ•˜๋Š” ์ด์ ์— ๋Œ€ํ•ด ์•ˆ๋‚ดํ•ด ๋“œ๋ฆฝ๋‹ˆ๋‹ค.

๋ฌธ์„œ ๋‹ค์šด๋กœ๋“œ

 

์ด ๊ธฐ์‚ฌ๋Š” JOT 61 (2021) special issue 3ํ˜ธ, ํŽ˜์ด์ง€ 34-36์— ๊ฒŒ์žฌ๋˜์—ˆ์Šต๋‹ˆ๋‹ค. ์˜จ๋ผ์ธ ์ด์šฉ ๊ฐ€๋Šฅ : www.springerprofessional.de/messsystemanalyse-leicht-gemacht/19211828

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