FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
Caratteristiche
- Analizzatore XRF universale di qualità superiore per misure automatizzate di rivestimenti molto sottili (< 0,05 μm) e per l'analisi di materiali fini nell'intervallo sub mil secondo ISO 3497 e ASTM B 568.
- Tubo microfocus con anodo di tungsteno
- Apertura intercambiabile 4x per ottimizzare le condizioni di misura
- Filtro intercambiabile 6x per condizioni di eccitazione ottimali per compiti più complessi
- Rivelatore di deriva al silicio (SDD) estremamente potente con un'area effettiva extra-large di 50 mm²
- Processore di impulsi digitali DPP+ per velocità di conteggio più elevate, tempi di misura ridotti o migliore ripetibilità dei risultati di misura
- Analisi di elementi da Al(13) a U(92)
- Altezza del campione fino a 14 cm
- Stadio XY programmabile ad alta precisione con accuratezza di posizionamento < 5 µm per misure automatizzate su strutture di piccole dimensioni
- Metodo DCM per una regolazione semplice e veloce della distanza di misura
- Strumento completamente protetto con omologazione secondo la legislazione vigente in materia di radioprotezione
Campi di applicazione tipici
- Misurazione di rivestimenti funzionali nell'industria elettronica e dei semiconduttori, ad esempio misurazione dello spessore di rivestimenti in oro fino a 2 nm.
- Analisi di rivestimenti sottili e molto sottili nell'industria elettronica e dei semiconduttori, ad esempio rivestimenti in oro/palladio di ≤ 0,1 µm
- Determinazione di sistemi multistrato complessi
- Misura di rivestimenti di materiali duri
- Misura dello spessore del rivestimento nell'industria fotovoltaica
- Analisi di tracce di sostanze pericolose come piombo e cadmio secondo le direttive RoHS, WEEE, CPSIA e altre direttive per l'elettronica, gli imballaggi e i beni di consumo
- Analisi e test di autenticità dell'oro e di altri metalli preziosi, nonché delle loro leghe
- Determinazione diretta del contenuto di fosforo nei rivestimenti funzionali in NiP
Il tuttofare di alto livello
Il FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD è uno degli strumenti a fluorescenza a raggi X più potenti della gamma Fischer. Questo spettrometro XRF è dotato di un potente rivelatore a deriva di silicio (SDD) ad alta risoluzione con un'area effettiva di 50 mm². Ciò consente di misurare in modo preciso e non distruttivo anche gli strati più sottili, ad esempio rivestimenti d'oro spessi circa 2 nm su telai di piombo.
In combinazione con il nuovo processore di impulsi digitali DPP+, sviluppato internamente, è possibile aumentare le prestazioni di misura a un nuovo livello. È ora possibile elaborare frequenze di conteggio ancora più elevate, con conseguente riduzione dei tempi di misura o miglioramento della ripetibilità dei risultati di misura. Allo stesso tempo, l'XDV-SDD è perfettamente adatto all'analisi non distruttiva dei materiali. Ad esempio, la sua sensibilità di rilevamento di tracce di piombo nella plastica è di circa 2 ppm, diversi ordini di grandezza inferiore ai valori richiesti dalla RoHS o dalla CPSIA.
Per creare le condizioni ideali per ogni misurazione dello spessore del rivestimento XRF, l'XDV-SDD è dotato di collimatori e filtri primari intercambiabili, che consentono di lavorare a livello scientifico. Il dispositivo, estremamente robusto e dotato di un pannello di controllo intuitivo, è facile da utilizzare tramite un joystick e dei pulsanti ed è stato progettato specificamente per i test in serie nell'uso industriale.
Prima della punzonatura, per volumi elevati di campioni o pezzi di prova di grandi dimensioni: Misurate il contenuto d'oro in modo rapido e affidabile
Esaminate in modo affidabile leghe o metalli preziosi per individuare le differenze più sottili con il nuovo FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD. Ottenete analisi altamente precise, sulla base delle quali potrete fare affermazioni affidabili sul valore di lingotti d'oro, monete o gioielli.
Casi di studio
