Ottica

• Ottimizzazione continua grazie a decenni di esperienza
• Sviluppo e produzione a Berlino
• Rispetto a un collimatore pinhole convenzionale: Amplificazione della densità XRF fino a 10.000 volte
• Riduzione del tempo di misura grazie alla concentrazione del fascio di eccitazione su un piccolo spot ad altissima intensità
• Piccole dimensioni dello spot fino a < 10*  µm per misure su componenti e microstrutture più piccole
• Banda spettrale da 1 keV - 50keV
• Diversi tipi disponibili: Monocapillari con forma cilindrica, ellittica o parabolica, e una varietà di policapillari, incluse le versioni senza alone
• Il software WinFTM sviluppato in casa supporta funzioni di mappatura, valutazioni speciali come la modalità array e misure automatizzate

* Dimensione dello spot a Mo-K

Misura di rivestimenti sottili e molto sottili e analisi di sistemi multistrato complessi:

• Rivestimenti su wafer di silicio e PCB
• Misura del contenuto di Ag nelle protuberanze di saldatura
• Componenti SMD
• Contatti plug-in
• Cornici di piombo
• Microscala degli elementi e mappature dello spessore degli strati

Lo sviluppo e la produzione di ottiche capillari di alta precisione per la formazione del fascio di raggi X è una delle nostre competenze tecnologiche principali. Grazie a questi componenti, gli strumenti XRF di Helmut Fischer sono in grado di misurare sui più piccoli componenti e microstrutture. Come uno dei soli 2 produttori al mondo, garantiamo l'innovazione e la massima precisione di misura.

Oltre all'uso di sorgenti microfocus altamente brillanti e di rilevatori dispersivi di energia efficienti, l'applicazione di ottiche policapillari è anche decisiva per la prestazione di misura ottimale di uno spettrometro XRF. Una lente policapillare concentra il fascio di eccitazione su un piccolo spot ad altissima intensità, il che porta ad una significativa riduzione del tempo di misura. I moderni sviluppi nel campo della nanotecnologia e della microelettronica stanno aumentando la richiesta di una risoluzione spaziale sempre migliore. Per molto tempo, la risoluzione spaziale nella gamma ad alta energia del fascio di raggi X è stata offuscata dal cosiddetto effetto alone. Questo effetto portava a un significativo deterioramento della risoluzione laterale dello spot di misura sulla superficie del campione e quindi a determinazioni composizionali errate nell'analisi quantitativa dei materiali. Grazie alla nostra esperienza pluriennale e all'efficace lavoro di sviluppo, siamo stati in grado non solo di ridurre l'effetto alone, ma anche di produrre lenti policapillari prive di alone.

A Helmut Fischer beneficiate di quasi 30 anni di know-how nello sviluppo di policapillari ottimizzati per una vasta gamma di applicazioni. L'ottica si basa sull'effetto della riflessione esterna totale sulla superficie interna liscia dei capillari di vetro. L'angolo critico della riflessione totale dipende dall'energia del fascio di raggi X, dalla densità del materiale riflettente e dalla rugosità della superficie riflettente. Poiché il vetro ha una rugosità molto bassa, è un materiale efficiente per la produzione di ottiche capillari a raggi X. Le ottiche capillari differiscono in termini di numero di riflessioni sulla superficie interna del capillare. Abbiamo design specifici nel portafoglio Fischer: Monocapillari con forma cilindrica, ellittica o parabolica, nonché una varietà di policapillari. Una panoramica dei vari metodi analitici a raggi X in cui vengono utilizzate le ottiche capillari è riportata nella tabella:

Elliptical or parabolic-shaped monocapillaries are imaging optical elements with unique total reflection. The size of the focal point of an elliptically shaped capillary is determined by both the size and shape of the source and the manufacturing accuracy of the capillary. Parabolically shaped capillaries focus a parallel beam to a focal point or parallelise the divergent beam of a point source. A synchrotron beam is focused by them on a very small point up to 250 nm.