Tutorials FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
Grace Chua, esperta di marketing presso Helmut Fischer, in una serie di tutorial illustra quanto sia facile utilizzare FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ. XDV®-µ è uno strumento di misura a fluorescenza da raggi X con ottica a raggi X policapillare per misurazioni su componenti e strutture molto piccoli. Tutti gli strumenti sono dotati di ottica policapillare che focalizza il fascio di raggi X, rendendo possibili punti di misura (fwhm) con diametri compresi tra 10 e 60 μm. L'elevata intensità della radiazione focalizzata consente misurazioni di durata ridotta. Oltre all'XDV-μ di applicazione universale, sono disponibili anche dispositivi specializzati per i settori dell'elettronica e dei semiconduttori. Ad esempio, XDV-μ LD è ottimizzato per la misura su circuiti stampati, mentre XDV-μ Wafer è destinato all'uso nelle camere bianche.
