FISCHERSCOPE X-RAY XDAL
Caratteristiche
- Spettrometro a fluorescenza da raggi X universale per misure automatizzate su strati; 0,0 5μm e per analisi dei materiali nella gamma di ppm secondo gli standard DIN ISO 3497 e ASTM B 568
- 3 diverse opzioni di rivelatore (Diodo Si -PIN; SDD 20 mm²; SDD 50 mm²)
- 3 filtri primari intercambiabili
- 4x collimatori intercambiabili
- punto di misura più piccolo ca. 0,15 mm
- Altezze del campione fino a 14 cm
- Stadio XY programmabile con precisione di posizionamento di 10 µm
- Custodia scanalata per la misura su grandi circuiti stampati </ li >
- Dispositivo per la protezione completa certificato;
Applicazioni
- Analisi dei materiali di rivestimenti e leghe (anche rivestimenti sottili e basse concentrazioni)
- Industria elettronica, ENIG, ENEPIG
- Connettori e contatti
- Industria dell'oro, della gioielleria e dell'orologeria
- Misurazione di rivestimenti sottili (pochi nanometri) di oro e palladio nella produzione di PCB
- Analisi di oligoelementi
- Determinazione del piombo ( Pb) per applicazioni ad alta affidabilità (assenza di baffi di stagno)
- Analisi dei rivestimenti nei materiali duri
Analisi a fluorescenza da raggi X per esigenze specifiche
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® è il miglior strumento di misura a fluorescenza da raggi X della XDL; serie . Come gli altri prodotti della serie, esegue misurazioni dall'alto verso il basso rendendo semplice e conveniente il test su campioni dalle sagome particolari. Per ottimizzare le tue specifiche condizioni di misurazione, FISCHERSCOPE X-RAY XDAL; viene fornito con collimatori e filtri intercambiabili di serie.
In caso di attività di misura impegnative scegliere il tipo di rivelatore più idoneo è fondamentale! A tale scopo FISCHERSCOPE X-RAY XDAL offre 3 diversi rivelatori a semiconduttore.
Il Si-PIN è un rilevatore di fascia media e adatto per misurare più elementi su un'area di misura relativamente ampia. Se dotato di Si-PIN, XDAL viene spesso utilizzato per ispezionare rivestimenti di materiali duri.
Il rivelatore Silicon Drift Detector (SDD) di alta qualità offre una migliore risoluzione energetica rispetto al Si-PIN. Gli spettrometri XDAL equipaggiati in questo modo vengono utilizzati per risolvere compiti di misura complessi nel settore elettronico: ad esempio per la misura di strati sottili di lega o per l'analisi di materiali con elementi molto simili come l'oro e il platino. Si tratta dello strumento XRF più adatto per il controllo di qualità con applicazioni ENIG ed ENEPIG.
Per misurazioni particolarmente difficili, Fischer offre anche un SDD con superficie del rivelatore extra-large. Il punto di forza di questo rivelatore sta nella sua capacità di misurare in modo affidabile strati fino a un intervallo di pochi nanometri e di effettuare analisi di tracce nell'intervallo al millimetro. Con questi strumenti XDAL puoi testare il contenuto di piombo per evitare baffi di stagno nelle saldature per le applicazioni ad alta affidabilità.
