FISCHERSCOPE X-RAY XDL e XDLM
Caratteristiche
- Spettrometro a fluorescenza da raggi X a dispersione di energia per analisi automatizzata dei materiali e misurazione non distruttiva dello spessore del rivestimento secondo lo standard ISO 3497 e ASTM B 568;
- punto di misura XDLM più piccolo: ca. 0,1 mm; punto di misura più piccolo XDL: ca. 0,2 mm
- Tubo a raggi X al tungsteno o tubo microfuoco al tungsteno (XDLM) come sorgente di raggi X
- Rilevatori a contatore proporzionale testati per una misurazione veloce
- Collimatori fissi o intercambiabili
- Filtri primari fissi o sostituibili automaticamente
- Disponibile con uno stadio XY manuale o programmabile;
- Alloggiamento scanalato per la misura su circuiti stampati di grandi dimensioni
- Videocamera per il fissaggio semplificato della posizione di misurazione
- Dispositivi di protezione completa certificati;
Applicazioni
- Rivestimenti elettro-placcati e galvanizzati come zinco su ferro per la protezione dalla corrosione;
- Test seriale di parti prodotte in serie
- Analisi della composizione di acciai speciali, ad es. rilevamento di molibdeno in A4
- rivestimenti cromati decorativi, ad es. Cr/Ni/Cu/ABS
- Misurazione di rivestimenti funzionali in oro su circuiti stampati come Au/Ni/Cu/PCB o Sn/Cu/PCB
- Rivestimenti su connettori e contatti nel settore elettronico come Au/Ni/Cu e Sn/Ni/Cu
Il tuo ingresso nel mondo della misura automatizzata
Gli spettrometri FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® e XDLM® si prestano all'utilizzo con la serie XUL ;. Tutti i componenti principali - come rivelatore, tubi a raggi X e combinazioni di filtri - sono identici. Ma hanno una differenza significativa: gli strumenti XDL e XDLM prevedono la misura dall'alto verso il basso. Questo metodo è particolarmente adatto per campioni non piatti: in questo modo le forme complesse non saranno più un problema!
La modalità di misurazione dall'alto verso il basso presenta un altro vantaggio: Semplifica le misure automatizzate. Dotati di stadio di campionamento programmabile, XDL; 240 e XDLM; 237 sono ideali per la scansione di superfici. In questo modo potrai testare lo spessore degli strati su parti più grandi o misurare automaticamente numerose parti piccole in successione.
Come per la serie XUL; la "M" presente in XDLM indica il "tubo microfuoco". Questi strumenti sono pertanto particolarmente adatti per l'analisi di piccoli campioni. Con un punto di misura di soli 0,1 mm di diametro, XDLM è perfetto per l'impiego nel settore elettronico.
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