FISCHERSCOPE X-RAY XDL y XDLM
Características
- Espectrómetro de fluorescencia de rayos X con dispersión de energía para el análisis automatizado de materiales y la medición no destructiva del espesor del recubrimiento de acuerdo con ISO 3497 y ASTM B 568 & nbsp;
- Punto de medición más pequeño XDLM: aprox. 0,1 mm; punto de medición más pequeño XDL: aprox. 0,2 mm
- Tubo de rayos X de tungsteno o tubo microfocal de tungsteno (XDLM) como fuente de rayos X
- Detectores de tubo contador proporcionales probados para mediciones rápidas
- Fijo o colimadores intercambiables
- Filtros primarios fijos o intercambiables automáticamente
- Disponible con una etapa XY manual o programable & nbsp;
- Carcasa ranurada para medir en grandes placas de circuitos impresos
- Cámara de video para una fácil fijación de la ubicación de medición
- Dispositivos certificados de protección completa & nbsp;
Aplicaciones
- Recubrimientos galvanicos, como zinc sobre hierro como protección contra la corrosión & nbsp;
- Pruebas en serie de piezas producidas en masa
- Análisis de la composición de aceros especiales, p. ej. detección de molibdeno en A4
- Recubrimientos decorativos de cromo, p. Cr / Ni / Cu / ABS
- Medición de recubrimientos de oro funcionales en placas de circuito impreso como Au / Ni / Cu / PCB o Sn / Cu / PCB
- Recubrimientos en conectores y contactos en la industria electrónica como Au / Ni / Cu y Sn / Ni / Cu
Su acceso al mundo de la medición automatizada.
Los espectrómetros FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® y XDLM® están estrechamente relacionados con la serie XUL & nbsp; Todos los Los componentes principales, como el detector, los tubos de rayos X y las combinaciones de filtros, son idénticos, pero hay una diferencia significativa: los dispositivos XDL & nbsp; y XDLM & nbsp; miden de arriba a abajo. Y eso significa un análisis conveniente de muestras no planas. ¡Las formas complejas ya no son un problema!
El enfoque de arriba hacia abajo tiene otra ventaja: facilita las mediciones automatizadas. Equipado con una etapa de muestra programable, XDL & nbsp; 240 y XDLM & nbsp; 237 son ideales para escanear superficies. Por lo tanto, puede verificar el grosor de las capas en piezas más grandes o medir automáticamente muchas piezas pequeñas una tras otra.
Al igual que con la serie XUL & nbsp; la M" en XDLM & nbsp; significa "tubo con microfocal". Esto significa que estos dispositivos son particularmente adecuados para analizar muestras pequeñas. Con un punto de medición de solo 0,1 mm de diámetro, el XDLM & nbsp; es perfecto para la industria electrónica.
& nbsp;
