¿Necesita determinar el contenido de metales pesados y otras sustancias nocivas en los componentes electrónicos, de forma rápida y no destructiva? Si es así, Fischer ofrece dispositivos de medición confiables para detectar las concentraciones más pequeñas de sustancias nocivas. Por lo tanto, puede cumplir fácilmente los requisitos de los estándares de la industria, como RoHs, WEEE, EOLV o CPSIA para componentes electrónicos.
Productos
- Mostrar producto: FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
- Mostrar producto: FISCHERSCOPE X-RAY XDL y XDLM FISCHERSCOPE X-RAY XDL y XDLM
- Mostrar producto: FISCHERSCOPE X-RAY XDAL FISCHERSCOPE X-RAY XDAL