FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
Características
- Analizador XRF universal de primera calidad para medidas automáticas de recubrimientos muy finos (< 0,05 μm) y para el análisis preciso de materiales en el rango submilimétrico según ISO 3497 y ASTM B 568.
- Tubo microfocal con ánodo de tungsteno
- 4x aperturas intercambiables para optimizar las condiciones de medición
- 6x filtros intercambiables para condiciones de excitación óptimas para tareas más complejas
- Detector de deriva de silicio (SDD) extremadamente potente con un área efectiva de 50 mm².
- Procesador digital de impulsos DPP+ para lograr procesar un mayor número de cuentas, reduciendo los tiempos de medida y mejorando la repetibilidad de los resultados de las medidas
- Análisis de elementos desde Al(13) hasta U(92)
- Alturas de muestra hasta 14 cm
- Mesa XY programable de alta precisión con una exactitud de posicionamiento de < 5 µm para mediciones automatizadas en estructuras pequeñas
- Método DCM para un ajuste sencillo y rápido de la distancia de medida
- Instrumento totalmente protegido con homologación según la legislación vigente sobre protección contra las radiaciones
Campos típicos de aplicación
- Medidas de recubrimientos funcionales en la industria electrónica y de semiconductores, por ejemplo, medida del espesor de revestimientos de oro de hasta 2 nm
- Análisis de recubrimientos finos y muy finos en la industria electrónica y de semiconductores, por ejemplo, revestimientos de oro/paladio de ≤ 0,1 µm
- Determinación de sistemas multicapa complejos
- Medida de recubrimientos de materiales duros
- Medidas del espesor de los recubrimientos en la industria fotovoltaica
- Análisis de trazas de sustancias peligrosas, como el plomo y el cadmio, de acuerdo con las directivas RoHS, WEEE, CPSIA y otras directivas sobre electrónica, envases y bienes de consumo
- Análisis y pruebas de autenticidad del oro y otros metales preciosos, así como de sus aleaciones
- Determinación directa del contenido de fósforo en recubrimientos funcionales de NiP
El todoterreno de alto gama
El FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD es uno de los instrumentos de fluorescencia de rayos X más potentes de Fischer . Este espectrómetro XRF está equipado con un potente detector de deriva de silicio (SDD) de alta resolución con un área efectiva de 50 mm². Esto le permite medir incluso las capas más finas de forma precisa y no destructiva - por ejemplo, recubriminetos de oro de unos 2 nm de espesor en marcos de plomo.
En combinación con el nuevo procesador digital de impulsos DPP+, desarrollado por la empresa, puede elevar el rendimiento de sus medidas a un nuevo nivel. Ahora se pueden procesar un mayor número de cuentas, lo que permite reducir los tiempos de medición o mejorar la repetibilidad de los resultados de las mediciones. Al mismo tiempo, el XDV-SDD es perfectamente adecuado para el análisis no destructivo de materiales. Por ejemplo, su sensibilidad de detección para las trazas de plomo en el plástico es de aproximadamente 2 ppm, varios órdenes de magnitud inferiores a los valores exigidos por RoHS o CPSIA.
Para crear las condiciones ideales para cada medida de espesor de recubrimiento por XRF, el XDV-SDD dispone de colimadores y filtros primarios intercambiables, lo que permite trabajar a un alto nivel. El dispositivo, extremadamente robusto y con un panel de control intuitivo, es fácil de manejar mediante un joystick y botones, y está diseñado específicamente para realizar pruebas en serie en el ámbito industrial.
Antes del marcado, para grandes volúmenes de muestras o grandes piezas de prueba: Medir el contenido de oro de forma rápida y fiable
Examine de forma fiable aleaciones o metales preciosos para detectar las más mínimas diferencias con el nuevo FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD. Obtenga análisis altamente precisos, en base a los cuales podrá hacer declaraciones fiables sobre el valor de lingotes de oro, monedas o joyas.
Casos
