FMP100 / H FMP150
特點
- 探頭種類很多,包括許多特殊的探頭,用於精確執行各種厚度測量任務
- 根據DIN EN ISO 2178的磁感應測量方法和根據DIN EN ISO 2360的渦電流測量方法,具有最大的靈活性;DUALSCOPE H FMP150還有磁性測量方法
- 塗層厚度測量規範包括 IMO PSPC, SSPC-PA2, QUALANOD或QUALICOAT
- 自動辨識探頭和基材
- 在高解析度的圖形觸控式螢幕上詳細顯示測量模式和檢驗計畫
- 廣泛的評估和統計功能,支援圖形顯示選項
- 大記憶體,可用於數千個不同校正的測量應用程式
- Windows CE作業系統透過圖形化使用者介面和使用者定義的檔和資料夾結構,使用者可以直觀地操作
- 可選:Fischer資料中心軟體可創建單獨的檢驗計畫
- USB介面可連接PC和印表機
完美的測厚儀,專業的品質保證
在塗層厚度測量方面獲得最大的靈活性,同時滿足最高的精度和準確度要求:您可以使用我們的DUALSCOPE®FMP100和DUALSCOPE®H FMP150!它們將磁感應測量法和渦電流測試法結合在一個儀器中,所以你可以在不更換儀器的情況下測量鋼鐵和有色金屬上的塗層厚度。DUALSCOPE H FMP150還有磁性方法,這允許你測量有色金屬或絕緣體上的鍍鎳厚度。
DUALSCOPE FMP100和DUALSCOPE H FMP150是品質保證中最先進的測厚儀。例如,您可以使用這些手持儀器來測量漆膜厚度。您甚至可以輕鬆而精確地測量CDC塗層。這些儀器配有觸控式螢幕和Windows™CE作業系統,操作速度快且直觀。由於記憶體大,它們可以處理數千個測量任務的數千個測量值。
各種統計和分析函數可用於評價測量結果。它們的另一個優勢是我們的專利工廠診斷圖(FDD),該評估選項使過程視覺化,並提供了生產變數(如厚度)分佈的圖形概述。