X-RAY XDV-µ 使用教學

Helmut Fischer市場專員Grace Chua, 將透過一系列教學展示FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ是多麼的便於使用。XDV®-µ是一種含有多毛細管X射線光學元件的X射線螢光測試儀器，用於測量非常小的部件和結構。該類儀器都配備了聚焦X射線束的多毛細管光學元件，使直徑在10到60μm之間的測量點（fwhm）也成為可能。高強度的聚焦輻射能夠縮短測量所需持續的時間。 除了普遍適用的XDV-μ外，針對電子和半導體行業也有專門的配置。 例如，XDV-μ PCB被優化用於對印刷電路板進行測量，而XDV-μ Wafer則用於無塵室。