FISCHERSCOPE X-RAY PCB系列
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB 還配備了比例計數管。但是，此 XRF 儀器具有多種準直器和濾光片，因此您可以為您的任務創建最佳測量條件。在基本配置中，它有一個拉出式樣品台，可簡化 PCB 的定位。根據要求，還可提供用於自動測量的可程式 XY 載物台。
- 用於標準應用的鎢微聚焦管
- 4個可切換的準直器可優化測量條件
- 3種可切換的濾波器可為更複雜的任務提供更好的激發條件
- 最小的測量點 Ø 約0.15 毫米
- 用於分析從鉀 (19) 到鈾 (92) 元素的比例計數管檢測器
- 可手動拉出或可程式測量台，適用於最大 610 x 610 毫米的印刷電路板(24” x 24”)
- 最大樣品高度：5 mm
- Fischer 專利：DCM 方法可簡單快速地調整測量距離
- 根據德國輻射防護法，個別接受作為完全受保護的儀器
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB
與 XULM-PCB 和 XDLM-PCB 相比，FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB 配備了高靈敏度的矽漂移探測器 (SDD)、不同的準直器和濾波器。這也為根據 ENIG 和 ENEPIG 方法進行的測試創造了最佳測量條件。在其基本配置中，儀器有一個拉出式樣品台，可簡化 PCB 定位。根據要求，這可以配備用於大型 PCB 的樣品台擴展。
- 鎢或鉻微聚焦管
- 4個可切換的準直器，優化測量條件
- 3種可切換的濾波器，為更複雜任務提供最佳激發條件
- 最小測量點 Ø 約0.15 mm
- 矽漂移探測器 (SDD)，用於分析從鋁 (13) 到鈾 (92) 的元素
- Fischer 專利：DCM 方法可簡單快速地調整測量距離
- 用於印刷電路板的手動可抽取載物台，最大 610 x 610 毫米（24 英寸 x 24 英寸）
- 最大樣品高度 10 毫米
- 根據德國輻射防護法，個別接受作為完全受保護的儀器
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
在高可靠性應用中，印刷電路板是對質量至關重要的組件。在這種情況下，將採用符合 ENIG 和 ENEPIG 工藝的高端塗層。由於這些工藝中的最薄層厚度在 40 到 100 nm 之間，因此比例計數管的精度不再足以監控工藝。這時FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB就是正確的選擇。高靈敏度的矽漂移檢測器 (SDD) 和多毛細管光學器件相結合，可以對尺寸小於 50 µm 的結構進行精確測量。
特別是在處理非常小的結構時，如果要檢查大量隨機樣本，單獨選擇每個測量位置可能會花費大量時間。但是使用 Fischer 實現的圖形辨識軟體，您可以省去這方面的工作量。只需存儲圖形的局部，XDV-µ PCB 自動搜索相應的結構並進行測量。
- Ultra 微聚焦管可在 µ-XRF 的最小光斑點上實現更高的性能；鉬陽極可選
- 4個可切換的準直器，優化測量條件
- 4種可切換的濾波器，為更複雜任務提供最佳激發條件
- 用於非常小的測量點的多毛細管光學元件 Ø 約 20 或 10 µm
- 矽漂移檢測器 (SDD)，用於分析從鋁 (13) 到鈾 (92) 的元素
- 可程式測量台，可選配用於 FLEX PCB 的真空支架
- 最大樣品高度 < 4-5 mm
- 根據德國輻射防護法，個別接受作為完全受保護的儀器
- 數位脈衝處理器 DPP+。 相同標準差下的測量時間較短*
*與「DPP」相比。
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