FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM

FISCHERSCOPE®X-射線 XDL®和XDLM®光譜儀與 XUL 系列密切相關。主要元件（例如探測器，X射線管和濾波器組合）是相同的，但兩者有一個顯著的區別：XDL和XDLM設備是從上到下進行測量，這意味著可以方便地分析非平面樣品-複雜形狀不再是難題！

自上而下的測試方式還有另一個優點：可以很容易地實現自動測量。 XDL240和XDLM237配備了可程式設計控制的樣品測試台，非常適合掃描樣品表面。 因此，您可以檢查較大部件上的鍍層厚度，或自動逐個測量大量的小部件。
與XUL系列一樣，XDLM中的“ M”代表“微聚焦管”。 這意味著這些設備特別適合分析小樣品。 XDLM的測量點直徑僅為0.1毫米，非常適合電子行業。