FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM
進入自動化測量世界
FISCHERSCOPE®X-射線 XDL®和XDLM®光譜儀與 XUL 系列密切相關。主要元件(例如探測器,X射線管和濾波器組合)是相同的,但兩者有一個顯著的區別:XDL和XDLM設備是從上到下進行測量,這意味著可以方便地分析非平面樣品-複雜形狀不再是難題!
自上而下的測試方式還有另一個優點:可以很容易地實現自動測量。 XDL240和XDLM237配備了可程式設計控制的樣品測試台,非常適合掃描樣品表面。 因此,您可以檢查較大部件上的鍍層厚度,或自動逐個測量大量的小部件。
與XUL系列一樣,XDLM中的“ M”代表“微聚焦管”。 這意味著這些設備特別適合分析小樣品。 XDLM的測量點直徑僅為0.1毫米,非常適合電子行業。