FISCHERSCOPE X-RAY 5000

Características

Medición continua en procesos en ejecución con conexión a sistemas de control de producción
Uso flexible: para mediciones en vacío o en aire; para temperaturas de muestra de hasta 400 ° C
Opcionalmente disponible con refrigeración por agua
Diseño y construcción particularmente robustos para mediciones sostenibles y precisas en condiciones adversas
Excelentemente adecuado para medir el espesor del recubrimiento y el análisis de materiales en productos con grandes superficies
la fuente de rayos X, el detector y el filtro primario pueden ser seleccionados por el cliente
Los sistemas cumplen con DIN ISO 3497 y ASTM B 568

Aplicaciones

Espesor de las capas CIGS, CIS, CdTe y CdS en la industria solar
Capas delgadas de unos pocos µm de espesor en tiras de metal, láminas metálicas y láminas de plástico
Composición de capas CIGS, CIS, CdTe y CdS en fotovoltaica
Control de espesor de revestimiento en producción continua
Monitoreo de procesos en plantas de pulverización catódica y galvanoplastia

El sistema XRF automatizado para energía fotovoltaica.

El sistema FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 mide continuamente el grosor de capa de capas delgadas en sustratos de gran área, por ejemplo en fotovoltaica. Los dispositivos de esta serie forman unidades modulares que son fáciles de instalar en líneas de producción. La X -RAY 5000 se puede operar en atmósfera normal o bajo vacío. Además, el dispositivo está diseñado para ser fácil de mantener: el cabezal de medición se puede reparar sin tener que liberar el vacío.

Si el producto se mueve o se abulta durante la fabricación, puede sesgar los resultados de la medición. Por esta razón, el software WinFTM de Fischer también tiene una función integrada para la compensación de distancia, que puede compensar fluctuaciones de hasta 1 cm sin requerir sensores de distancia adicionales.