FISCHERSCOPE X-RAY XAN

和XUL系列一樣，FISCHERSCOPE®X射線XAN®儀器非常適合分析簡單形狀的樣品。然而，XAN系列的一大優勢在於其高品質的半導體探測器。X射線螢光不僅可以測量鍍層的厚度，還可以分析合金（例如銅）的成份；

XAN系列總共包括5款桌上型XRF光譜儀，涵蓋廣泛的應用範圍。XAN215具有經濟高效的PIN檢測器。非常適合簡單的鍍層厚度任務，例如鐵上的鋅層或Au/Ni/Cu。對於更複雜的合金或貴金屬應用，我們建議使用含有矽漂移檢測器SDD的設備（例如XAN220）：由於其解析度更高，可以可靠地區分金和鉑。當您需要檢測微量重金屬和其他有害物質時，XAN250是您的理想選擇。

在 XAN 220, XAN 222, XAN 250和XAN 252上，您現在可以更高精度和更快速度完成測量。與GOLDSCOPE SD 520及SD 550一樣，這些儀器都配備了完全由Fischer自主研發的最新數字脈衝處理器DPP+。通過將新處理器與同樣新獲得的擁有更大有效面積(50 mm²)的矽漂移探測器相結合，可獲得併處理更多的信號，同時還能保證極佳的能量分辨率。因此，您的收益是：最多可縮短2/3的測量時間，或者減少絕對標準偏差最高達45%。