La serie professionale per testare i circuiti stampati
I circuiti stampati di oggi hanno un gran numero di punti di contatto rivestiti. Per garantire l'affidabilità dei giunti saldati, la resistenza alla corrosione e la durata di conservazione, i rispettivi spessori dei vari materiali devono rigorose in relazione corretta. Per monitorare queste strette è la scelta ottimale, la fluorescenza a raggi X a dispersione di energia è il metodo di scelta.
Con la serie PCB, Helmut Fischer offre soluzioni di misurazione specializzate per i circuiti stampati. Gli specialisti della misurazione delle schede PCB forniscono risultati affidabili e veloci sia per compiti di misurazione semplici che ambiziosi e per la misurazione dello spessore degli strati fino all'ordine dei nanometri.
Sono disponibili diversi modelli a seconda delle vostre esigenze. Chiamateci! Siamo qui per voi.
FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB
Per misurazioni semplici e controlli a campione, il FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB è lo strumento XRF ideale. Come robusto strumento entry-level, lo spettrometro XRF è dotato di un rilevatore a tubo contatore proporzionale, che consente di ottenere tempi di misurazione brevi.
- Si tratta di uno spettrometro con tubo microfocale in tungsteno.
- Tubo microfocale in tungsteno per applicazioni standard
- Il più piccolo punto di misura Ø circa 0. 15 mm
- Contatore a tubo proporzionale per l'analisi di elementi dal potassio (19) all'uranio (92)
- Brevettato da Fischer: il metodo DCM per una regolazione semplice e veloce della distanza di misura
- Piano porta campione ampio e fisso per circuiti stampati fino a 610 x 610 mm (24" x 24")
- Altezza massima del campione 90 mm
- Strumento completamente protetto con omologazione secondo la legge tedesca sulla radioprotezione
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB
Il FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB è anche dotato di un tubo contatore proporzionale. Tuttavia, questo strumento XRF ha una varietà di collimatori e filtri in modo da poter creare le condizioni di misurazione ottimali per il vostro compito. Nella configurazione di base, ha uno stadio campione estraibile, che semplifica il posizionamento del PCB. Su richiesta, è disponibile anche uno stadio XY programmabile per misure automatizzate.
- Tubo microfocale al tungsteno per applicazioni standard
- Apertura variabile 4x opzionale per condizioni di misura ottimizzate
- Filtro variabile 3x opzionale per migliori condizioni di eccitazione per compiti più complessi
- Il più piccolo punto di misura Ø circa 0. 15 mm
- Contatore a tubo proporzionale per l'analisi di elementi dal potassio (19) all'uranio (92)
- Tavolo di misura estraibile manualmente o programmabile per circuiti stampati fino a 610 x 610 mm (24" x 24")
- Altezza massima del campione: 5 mm
- Brevettato da Fischer: il metodo DCM per una regolazione semplice e veloce della distanza di misura
- Strumento completamente protetto con omologazione secondo la legge tedesca sulla radioprotezione
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB
A differenza del XULM-PCB e XDLM-PCB, il FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB è dotato di un rilevatore di deriva al silicio (SDD) altamente sensibile, diverse aperture e filtri. Questo crea condizioni di misurazione ottimali anche per i test secondo i metodi ENIG e ENEPIG. Nella sua configurazione di base, lo strumento ha un tavolo di campionamento a scomparsa che semplifica il posizionamento del PCB. Su richiesta, questo può essere equipaggiato con un'estensione del tavolo di campionamento per PCB di grandi dimensioni.
- Tubo microfocale al tungsteno o al cromo
- 4x apertura variabile per condizioni di misura ottimizzate
- 3x filtro variabile per condizioni di eccitazione ottimali per compiti più complessi
- Punto di misura più piccolo Ø circa 0. 15 mm
- Rivelatore di deriva al silicio (SDD) per analisi di elementi dall'alluminio (13) all'uranio (92)
- Brevettato da Fischer: il metodo DCM per una regolazione semplice e veloce della distanza di misura
- Piano porta campione estraibile manualmente per circuiti stampati fino a 610 x 610 mm (24" x 24")
- Altezza massima del campione 10 mm
- Strumento completamente protetto con omologazione secondo la legge tedesca sulla radioprotezione
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB
Nelle applicazioni ad alta affidabilità, i circuiti stampati sono componenti critici per la qualità. In questi casi, vengono impiegati rivestimenti di fascia alta secondo i processi ENIG e ENEPIG. Poiché gli spessori degli strati più sottili in questi processi sono compresi tra 40 e 100 nm, la precisione dei tubi contatori proporzionali non è più sufficiente si rivela monitorare il processo. È qui che il FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB è la scelta giusta. La combinazione di un rilevatore di deriva al silicio (SDD) altamente sensibile e di un'ottica policapillare permette di effettuare misure precise su strutture di dimensioni inferiori a 50 µm.
Soprattutto quando si ha a che fare con strutture molto piccole, selezionare individualmente ogni posizione di misurazione può richiedere molto tempo se si deve ispezionare un gran numero di campioni casuali. Ma con il software di riconoscimento delle immagini implementato da Fischer, potete risparmiarvi questo sforzo. Basta memorizzare una sezione dell'immagine. Il PCB XDV-µ cerca le strutture corrispondenti e le misura automaticamente.
- Tubo microfocale con tungsteno o molibdeno
- 4x apertura variabile per condizioni di misura ottimizzate
- 4x filtro variabile per condizioni di eccitazione ottimali per compiti più complessi
- Ottica policapillare per punti di misura molto piccoli Ø ca. 20 o 10 µm
- Rivelatore di deriva al silicio (SDD) per l'analisi di elementi dall'alluminio (13) all'uranio (92)
- Tavolo di misura programmabile, opzionalmente con supporto a vuoto per FLEX PCB
- Altezza massima del campione < 4-5 mm
- Strumento completamente protetto con omologazione secondo la legge tedesca sulla radioprotezione