正確的鍍液成份是保證金屬鍍層品質的關鍵。你真的知道分析電鍍槽液有多容易嗎？解決方案就是X射線螢光分析！請閱讀本期德國貿易雜誌JOT – Journal für Oberflächentechnik上我們引人入勝、內容豐富的文章。
金屬鍍層的品質在很大程度上取決於電鍍液的成分。通常，會用化學電解質分析方法來監測電鍍液。然而，這些方法既耗時又昂貴。一種簡單的替代方法是X射線螢光分析法。
為了以規定的沉積速率和均勻的成分施塗電鍍層，電鍍公司必須非常密切地監測其鍍液的成分。還有不僅僅是珠寶行業常用的裝飾性金屬塗層，如AuCuCd、AuCuIn或RhRu鍍層。無論是為了符合規範還是為了裝飾，必須確保鍍層能均勻地鍍在整個表面上。這樣，就可以實現所需的功能和統一的著色。
對於鍍液分析，可以使用各種化學方法：例如ICP-OES、AAS或滴定法。然而，這些方法的缺點是耗時、成本高、實現複雜。一種簡單、快速、經濟的替代方法是X射線螢光分析法（XRF分析），它能提供同樣精確的結果。只需幾個簡單的步驟，測量準備且除了使用的塑膠薄膜以外沒有消耗品。既不需要分析氣體，如氬氣，也不需要純化水。
全球測量技術專家Fischer為XRF分析提供了多種不同的測試儀器。高精度X射線螢光測試儀是分析電鍍液中金屬含量的專用儀器，可用於工業上幾乎所有常用電解液的溶液分析。此過程所需的附件都包含在電鍍液分析附件包中，因此相應的XRF測量儀器不需要特殊升級即可執行分析。這些樣品製備和測量完全不需要很多相關知識儲備就可以完成，當然你也可以得到Fischer全球服務的支援。
最短時間內精確測量結果
首先，用待分析的溶液填充一個小測量杯。之後，覆蓋一層薄而結實的聚酯薄膜，並用一個黑色的塑膠環緊緊密封。用這種方法製備的樣品也可以用測量方向為自下向上的XRF儀器進行測量。
隨後，將鍍液分析附件放置在XRF儀器的工作臺上，並使用Fischer開發的軟體進行對焦。相應的溶液分析測量程式存儲在軟體中，可經由相應的按鈕或先前設定的快速鍵進行選擇。測量時間、測量次數等測量條件可以靈活設置，並直接存儲在測量程式中。
只需一次按鍵，測量就可以開始，並在很短的時間內提供精確的結果。因此，可以更快對電鍍槽進行調整。除了SPC顯示器外，還有許多其他選項可以實現視覺化測量結果。鍍液分析附件是耐化學物質的，因此可以重複使用，從而將使用成本降至最低，前提是對其進行適當清潔。
可以測定 0.1 g/l 起的金屬含量
可提供三種類型的探測器：比例接收器、矽PIN接收器和矽漂移探測器（SDD）。配有比例接收器的測量儀器可用於金屬含量為1 g/l以上的溶液。帶有矽PIN或矽漂移探測器的儀器由於其更好的能量解析度而更加靈敏，並且可用於0.1 g/l以上的濃度。
X射線螢光測試儀不是必須要校驗的。對於工廠控制，無標準測量通常也是足夠的。如有必要，可隨時用已知濃度的溶液進行校驗。重要的是，在實際應用中，校驗與待測電鍍槽液可以一起進行。
三種不同的測量杯
然而，電鍍液的基體不僅由金屬離子決定。通常含有有機成分或其他輕元素，如氯、硫酸鹽或鎶。它們無法釋放可接收範圍內的螢光信號，但對待分析的元素卻有吸收作用。因此，鍍液分析套件裡括三種不同的測量杯，它們在底座的材料上有所不同：鉬、鎳或鋯。測量杯底座釋放的螢光信號是可以預知的基體效應。使用合適的測量杯可確保底座的螢光信號不會與待分析元素的螢光信號重疊和干擾。
與其他分析方法相比，高精度X射線螢光測試儀搭配合適的鍍液分析測量杯，大大節省了時間，並且可以直接應用於生產過程，無需專業的測試人員也可以進行。