![Measure Coatings on Lead Frames](/fileadmin/_processed_/a/8/csm_application_leadframes_f59706aa02.jpg)
Al fine di soddisfare le esigenze del settore, i rivestimenti moderni dei quadri conduttori (oro, palladio e nichel) sono sempre più sottili (fino a pochi nanometri). Per misurare questa applicazione complessa, Fischer ha quindi sviluppato strumenti di fluorescenza da raggi X ad elevata precisione e accuratezza. I raggi X di Fischer sono in grado di misurare contemporaneamente lo spessore e la composizione consentendo risultati di misurazione ripetibili in pochi secondi.