Reconhecimento de padrões em instrumentos FISCHERSCOPE® X-RAY
Na maioria dos casos, o método de fluorescência de raios X (XRF) não requer preparação de amostra demorada. Um simples posicionamento da sonda no feixe de raios X é suficiente. Mas se a amostra em teste tem as mesmas dimensões que o tamanho do ponto de medição, uma colocação exata é difícil, por exemplo, para a medição da espessura do revestimento nos seguintes objetos:
- Conecte os contatos nas placas de circuito impresso
- Conectores
- componentes SMD
Com o novo recurso de reconhecimento de padrão, todos os instrumentos FISCHERSCOPE® X-RAY com tabelas XY programáveis são capazes de posicionar amostras com segurança, mesmo em condições difíceis. O Software WinFTM® armazena um detalhe da imagem (padrão) e o busca durante a medição. Em seguida, ele reajusta a posição da mesa XY, de modo que o padrão seja encontrado e a medição seja realizada na posição correta.
Vantagens:
- Redução da influência do operador durante o posicionamento das amostras
- Redução da influência da tolerância dimensional das amostras
