FISCHERSCOPE X-RAY XDL e XDLM
Características
- Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer for automated material analysis and non-destructive measurement of coating thickness according to ISO 3497 and ASTM B 568
- Smallest measuring spot XDLM: approx. 0.1 mm; smallest measuring spot XDL: approx. 0.2 mm
- Tungsten X-ray tube or tungsten microfocus tube (XDLM) as an x-ray source
- Proven proportional counter tube detectors for fast measurement
- Fixed or changeable collimators
- Fixed or automatically exchangeable primary filters
- Available with either a manual or a programmable XY stage
- Slotted housing for measuring on large printed circuit boards
- Video camera for easy fixing of the measurement location
- Certified full-protection devices
Aplicações
- Revestimentos galvanizados, como zinco sobre ferro como proteção contra corrosão
- Testes em série de peças produzidas em massa
- Análise da composição de aços especiais, por ex. detecção de molibdênio em A4
- revestimentos decorativos de cromo, por ex. Cr / Ni / Cu / ABS
- Medição de revestimentos de ouro funcionais em placas de circuito impresso, como Au / Ni / Cu / PCB ou Sn / Cu / PCB
- Revestimentos em conectores e contatos na indústria de eletrônicos, como Au / Ni / Cu e Sn / Ni / Cu
Sua entrada no mundo da medição automatizada
Os espectrômetros FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® e XDLM® estão intimamente relacionados à série XUL . Todos os componentes principais - como detector, tubos de raios X e combinações de filtros - são idênticos. Mas há uma diferença significativa: os dispositivos XDL e XDLM medem de cima para baixo. E isso significa análise de amostras não planas - formas complexas não são mais um problema!
A abordagem de cima para baixo tem outra vantagem: facilita as medições automatizadas. Equipado com um estágio de amostra programável, o XDL 240 e o XDLM 237 são ideais para digitalização de superfícies. Assim, você pode verificar a espessura das camadas em partes maiores ou medir automaticamente muitas partes pequenas, uma após a outra.
Assim como na série XUL , o ‘M’ em XDLM significa ‘tubo de microfoco’. Isso significa que esses dispositivos são particularmente adequados para analisar pequenas amostras. Com um ponto de medição de apenas 0,1 mm de diâmetro, o XDLM é perfeito para a indústria eletrônica.
