Mikro özdirenç yöntemi ile kaplama kalınlığı ölçümü

Mikro özdirenç yöntemi, yalıtım yüzeyleri üzerindeki elektriksel olarak iletken kaplamaların kalınlığını ISO 14571'e göre ölçmek için uygundur. Sık sık baskılı devre kartları ve çok katmanlı PCB'lerde bakır kaplamaları incelemek için kullanılır. Mikro özdirenç yönteminin avantajları? Devre kartının diğer katmanları ölçüm üzerinde hiçbir etkiye sahip olmadığından, yalnızca en üst katmanın kalınlığı hassas bir şekilde belirlenebilir.

Tüm elektromanyetik test yöntemleri karşılaştırmalıdır. Bu, ölçülen sinyalin, cihazda hafızaya alınan karakteristik bir eğri ile karşılaştırıldığı anlamına gelir. Sonucun doğru olması için, karakteristik eğri mevcut koşullara uyarlanmalıdır. Bu, kalibrasyon yoluyla elde edilir.  

Ölçümü güçlü bir şekilde etkileyebilecek faktörler, tabakanın elektrik direncini, numunenin şeklini ve yüzeyin pürüzlülüğünü içerir. Ayrıca, operatör de sonucu etkileyebilir.

Kaplamanın kalınlığının yanı sıra, bakırın özgül direnci de ölçüm pimleri arasındaki voltaj düşüşünü etkileyebilir. Direnç, spesifik alaşıma ve metalin nasıl işlendiğine bağlı olarak değişebilir ve farklı sıcaklıklar da değişikliklere neden olabilir. Bu, sıcaklık kompanzasyonu veya ölçümle aynı şartlar altında kalibrasyonu gerektirebilir.

Çok dar parçalarda , alan çizgileri geniş nesnelerde olduğundan farklı çalışır. Teorik alan çizgisinden bu sapma, kaplama kalınlığı ölçümünde sistematik hatalara yol açar. Bu nedenle, minimum numune boyutu ve / veya numune kenarından minimum mesafe için proba özgü spesifikasyonlar vardır.

Son fakat aynı derecede önemli olarak, ölçüm cihazının kullanım şekli de önemli bir rol oynamaktadır. Probun her zaman yüzeye dikey olarak ve basınçsız olarak yerleştirildiğinden emin olun. Daha iyi doğruluk için, probu numuneye otomatik olarak indirmek için bir stand kullanılabilir.