FISCHERSCOPE X-RAY 5000

Características

Medição contínua em processos em execução com conexão a sistemas de controle de produção
Uso flexível: para medições em vácuo ou ar; para amostras de temperaturas de até 400 ° C
Opcionalmente disponível com refrigeração a água
Design e construção particularmente robustos para medições precisas de forma sustentável sob condições adversas
Excepcionalmente bem adequado para medição de espessura de revestimento e análise de material em produtos com grandes superfícies
Fonte de raios X, detector e filtro primário podem ser selecionados pelo cliente
Sistemas em conformidade com DIN ISO 3497 e ASTM B 568

Aplicações

Espessura das camadas CIGS, CIS, CdTe e CdS na indústria solar
Camadas finas com apenas alguns µm de espessura em tiras de metal, folhas metálicas e folhas de plástico
Composição das camadas CIGS, CIS, CdTe e CdS em fotovoltaicos
Controle da espessura do revestimento em produção contínua
Monitoramento do processo em instalações de sputter e galvanoplastia

O sistema XRF automatizado para energia fotovoltaica

O sistema FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 mede continuamente a espessura da camada de camadas finas em substratos de grandes áreas, por exemplo, em fotovoltaicos. Os dispositivos desta série formam unidades modulares fáceis de instalar em linhas de produção. O X-RAY 5000 pode ser operado em atmosfera normal ou sob vácuo. Além disso, o dispositivo é projetado para ser de fácil manutenção: a cabeça de medição pode ser reparada sem ter que liberar o vácuo.

Se o produto se mover ou inchar durante a fabricação, pode distorcer os resultados da medição. Por esse motivo, o software WinFTM da Fischer também possui uma função integrada para compensação de distância, que pode compensar flutuações de até 1 cm sem a necessidade de sensores de distância adicionais.